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X-Ray检测系统

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  Revolution X-ray检测系统可以为用户提供直到75°的视角,与托板平面的角度只有15°这使得在BGA, 礏GA,多层板,以及PCB焊接点进行检测时,在410 x 410 毫米的扫描面积内,在所有角度的最大放大倍数都能达到6000倍。这个系统还有一个友好的InspecX 软件PCB编程界面,以满足简易编程的需求。
X-Tek Systems Ltd.  www.xtekxray.com

来源:半导体国际   作者:  2006/5/12 0:00:00
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