据Reed-Electronics网站报道，SUSS MicroTec AG近期发布了其最新型的IZI Probe探卡，这款产品是目前市场上唯一一款采用独特IZI探测技术用于产品测试的可修复RF探卡。

随着工作频率的增加，RF和微波器件变得越来越复杂，器件产篇S-参数的获得变得尤为重要。S-参数重点描述器件在线测试时的工作性能，并为制程工艺提供临界值反馈。为了实现S-参数的精确探测，生产厂商普遍采用昂贵且不可修复的RF探卡。

SUSS公司的IZI Probe探卡是第一款继承了独特MEMS制程技术的RF探卡，可以实现32个频道的探测，配备多通路附件后一个探卡可以同时实现RF和直流信号的探测。

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http://www.reed-electronics.com/semiconductor/articleXml/LN396572501.html