----此项封装技术的要点,是在晶圆上形成和印制线路板类似的,垂直穿透晶圆的穿孔并做成连接晶圆上下两面的接触;采用的方法是该公司晶圆制造工艺中的等离子体腐蚀工艺ADP(在常压下游等离子体< atmospheric downstream plasma>中进行腐蚀)。此项技术是将多块具有不同功能的集成电路晶圆,在进行划片以前就堆垒在一起,保持住集成电路制造中的规模生产优点,然后再进行划片。
----制造过程中形成金属绝缘的穿孔,深度为50到150μm。穿孔首先在晶圆的上侧形成,并使之和集成电路相应的连接层相连。下一步采用ADP工序,在晶圆的下侧有选择性地将硅腐蚀掉。此时没有使用光刻掩模版就形成了穿透硅的穿孔。
----S-WLP工艺还在晶圆的背面形成穿透硅片的坚固结实的接触(参看付图)。这些在背面形成的接触,接点的性能和倒装芯片所达到的性能很接近,并且可以直接和另一个晶圆或硅衬底键合,不需要再另外制造突起。
----当穿孔的接触形成后,进行晶圆的堆垒,然后再进行切片。和其它的封装工艺(如倒装芯片和引线键合工艺)不同,S-WLP工艺技术没有限制堆垒的晶圆层数,也不需要使用垮过芯片边界的长连接线。因此连接线比较短可获得较小的电感,可以获得较高水平的信号性能,克服了一大难题。
----取消了垮越芯片边界的引线连接,也为降低堆垒芯片封装的成本克服了一大障碍。如欲了解更多的信息,请和Thru-Si Technologies公司的Ed Korczynski先生联系,电话号码为:408-720-3333,e-mail为edk@trusi.com 网址为:http://www.trusi.com。
