据Semiconductor Reporter网站报道，E M Optomechanical,Inc.(EMOM)近期宣布，公司已经获得了Sandia国家实验室关于采用其新型干涉显微技术生产产品的许可。

该技术可以用于生产MEMS产品制造和性能测试表征的仪器设备。该技术由Sandia研究成员Mike Sinclair、Maarten de Boer和Alex Corwin共同研究成功。Sinclair表示，Sandia将该技术授权EMOM总裁Tom Swann进行产品商业化运作出于多方面考虑。

EMOM在光学仪器方面有其设计和制造专长，位于本地有利于技术转化，Sinclair表示。此外在Swann担任Optomec Inc.总裁时，成功的实现了Sandia另一项技术的转化。

E M Optomechanical,Inc.(EMOM)成立于六年前，总部设于美国新墨西哥州Albuquerque，公司主要提供半导体和微系统行业相关测试设备。 公司的核心技术是通过视频图像实现定量计量的独特软件，此外公司也提供获得图像所需的必要硬件系统。更多信息请访问http://www.emopto.com/。

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