FormFactor推出新型探卡将大幅提高300毫米闪存测试产出

据Semiconductor Reporter网站报道，FormFactor公司日前正式推出其专为300毫米闪存产品设计的测试探卡，并声称该探卡采用最新架构增长了设备正常运行时间，增加了易用性，提高了产出能力。

FormFactor目前正与Accretech以及Advantest等测试设备公司合作，将其探卡装载于这些公司的测试设备之上，以推进技术尽快进入市场。

该探卡基于one-touchdown的测试方法。这种测试方法因每次测试之后需要重新调整，非产出时间所占比例较大。该公司的Harmony OneTouch探卡通过将探卡与测试设备作为整体进行整合，降低非产出时间，提高产率。