2月7日，科利登推出两款新的测试选件，D-6436和D-6408,进一步丰富其6.4Gbps高速芯片测试产品系列。D-6436主要针对于高达6.4Gbps速度的芯片调试和量产测试而设计，采用了SERDES（并串串并转换）-per-pin架构，从而能支持那些现存的或即将出现的总线协议如PCI Express,XAUI,FB-DIMM，PCIe 2以及总线测试中的不确定性操作。每个选件有36对差分通道，其中4对能配置为源同步时钟。它还有一个128Mb深度的捕获存储器，能在多时域条件下使用。每个管脚都支持嵌入时钟，源同步时钟前送或测试仪同步模式来真正模拟芯片的运行模式。 
    D-6408能提供6.4Gbps下的完全产分输出和输入。依靠专利的sequencer-per-pin
时序灵活性，各个管脚之间的边沿放置精度能达到+/- 20 ps, 还能提供时钟前向源同步模式和传统的并行总线测试能力，从而支持下一代的HyperTransport 和PCIe总线。D-6408能提供极好的精度和可重复性，因而能快速可靠地应用于新产品的特征参数分析。