由中国半导体行业协会和中国国际贸易促进委员会电子信息行业分会联合主办的IC－CHINA 2004“第二届中国国际集成电路产业展览暨研讨会”将于2004年9月1日－3日在上海光大国际会展中心举办。在举办展览的同时，将举办六个主题研讨会。

信息产业部电子第五研究所（中国赛宝实验室）将协助承办“集成电路可靠性技术及发展”的主题研讨会。研讨会上将邀请国内集成电路可靠性方面的著名专家和学者进行专题演讲和报告，同时将有国内外的专业仪器设备制造商介绍关于集成电路可靠性最新技术状况以及发展方向。
参加研讨会的计划安排如下：
时间： 2004年9月3日上午9:00~12:30
地点：上海光大会展中心国际大酒店9号厅
发言人及主题：
1 集成电路可靠性评价技术
信息产业部电子第五研究所所长、中国赛宝实验室总裁孔学东
2 最新的集成电路诊断技术——OptiFIB
科利登系统有限公司Chun-Cheng Tsao博士
3 用光声的显微镜方法来对微压焊IC进行非破坏性的检测
白俄罗斯Planar Concern 公司 Sviataslau B. Shkolyk
4 抗静电/抗栓锁主要国际规范及最先进的自动化测试系统
台湾讯程实业股份有限公司副总经理何正江
5 集成电路失效分析技术
信息产业部元器件失效分析中心 资深失效分析技术专家费庆宇
6 芯片级老化及测试
Steve Steps，the Senior Director of Wafer Level Burn-In and Test at Aehr Test Systems

详细内容见WWW.RAC.CEPREI.COM网站。