Keithley仪器公司日前宣布，日本东芝公司已经选择了Keithley S630DC/RF参数测试系统以支持其最新一代半导体的生产。
　　东芝集团半导体公司的高级经理Tatsuo Noguchi指出，S630系统将有助于公司降低对下一代半导体，即65纳米CMOS设备进行测试的成本。鉴于其在一系列基准测试中的表现，东芝选择了Keithley技术。此外S630还能够为东芝提供下列几个关键参数：
　　·最快捷的测量速度，这将帮助东芝降低测试成本。
　　·最灵敏的测量性能，这是半导体设备测试中一个十分重要的因素。
　　·更灵活的软件设计，这将帮助东芝更轻松的将新的S630系统与其现有的生产环境进行整合。
　　"这是一个意义重大的决定，它标志着该行业主要厂商对Keithley测量技术的认可，"Keithley仪器公司主席、总裁兼执行总监Joseph P. Keithley评价道，"东芝在消费电子产品制造方面的记录是十分出众的，其开发同类最佳生产技术的热情也是众所周知的。他们对于S630系统进行的评估是非常严格和详细的，这更增加了此产品为我们公司赢得的荣誉 。"
　　"Keithley的技术将帮助我们实现比从前更强的生产能力，这是降低设备测试成本中的一个关键参数，" Tatsuo Noguchi解释道，"这个系统使用简便并提供强大而且灵活的软件，这些重要的因素促使我们推荐Keithley系统作为标准系统，以支持我们新的器件技术。"
　　S630DC/RF型系统创建于2001年，是为进行晶片水平通讯和高速数字设备探测提供的带射频选项的单插参数测试解决方案。它可以以高达20GHz的频率对单个器件进行测试，且速度比典型的使用单独直流和射频测试操作的堆砌式系统快十倍。这是一个独特的半导体测试系统，它能够对频率非常低的直流和射频电子信号进行快速测量，这在全球是罕见的。这两种性能对于测试下一代消费电子产品中使用的半导体是至关重要的，因为这些产品不断的要求支持射频的集成电路提供备受欢迎的无线、移动以及互联网服务。