中国上海–2006年3月19日 – Teradyne公司 (纽约证券交易所代号：TER)宣布，全球性的半导体包设计、组装和测试服务提供商ASAT已经购买了Teradyne FLEX(TM) 和 J750测试系统，用于高容量消费性设备测试。ASAT的选择是基于Teradyne的全球客户支持和测试系统本身具有的、符合ASAT测试路线图策略的优异性能。该测试系统将用于ASAT位于中国东莞的新工厂。
 
“Teradyne的客户支持和测试解决方案的完美结合，解决了客户的测试需求，让ASAT能够更高效地利用Teradyne的测试能力，”ASAT测试和工程部的高级总监John Ritchie说，“通过把FLEX 平台用于下一代设备测试，我们还能够覆盖范围更广的客户设备。”

“ASAT已经认识到FLEX 和 J750 测试系统具有为多元化客户提供服务、提供最高投资回报的能力，” Teradyne半导体测试部无织物坎导体事业部经理Dan Hamling说，“由于购买了Teradyne系统，ASAT进一步巩固了在混合信号测试领域的领导地位，增强了与高速成长的中国消费性半导体市场测试需求看齐的能力。”

关于FLEX平台
Teradyne的FLEX测试平台推进了测试技术的发展，齐测试结构可以提供高效、多站点测试。该平台提供多系统，因此客户能够优化其性能、容量和资本成本，以降低测试成本。FLEX平台系统涵盖了从DFT和结构测试到标准模拟、从混合信号到最新的高度集成芯片系统（SoC）和包内系统（SiP）设备的测试要求，用于消费性产品、汽车、大容量存储器、无线和数据通信设备。在设备时钟时间里（即使在多时域里），FLEX平台构架在矢量基础上对仪器进行同步化处理和控制。万用槽形测试头的设计，允许根据不断变化的测试需求进行重新配置。IG-XL(TM) 软件操作系统提供快速程序开发能力，包括从单一站点到多站点测试的即时转换。另外，OpenFLEX (TM) 开放式系统结构还为FLEX 平台的高密度仪器进行了补充，可以有针对性地增加仪器，进一步提高系统性能和测试的经济性。