据Semiconductor Reporter网站报道,Suss MicroTec近期宣布,其与IBM研发的新型无铅焊料焊盘技术已经完成了最初的可靠性测试。该项技术被命名为C4NP,Suss表示正在为IBM的产品兴建一个大容积C4NP设备。
C4NP是IBM研发的下一代圆片焊盘技术,它通过比较复杂的电镀工艺,在芯片表面制成焊球。Suss表示,现在已经可以一步完成300mm圆片的焊球制作。在可靠性测试中,300mm的圆片将被制作约1300万个200微米的铜锡焊球或银锡焊球。
测试包括Jedec水分含量的3级预处理、温度冲击循环(-55°C+125°C)、高温度存储、电迁移特性、可湿性、构造分析、alpha辐射及其他测试,C4NP制程工艺均满足测试要求。
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http://www.semireporter.com/public/13313.cfm
